GTEM小室構成的輻射敏感度測試系統(tǒng)為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據(jù)。測試系統(tǒng)構成：主要由標準信號源、功率放大器、場強監(jiān)視器、計算機及操控軟件和GTEM小室室體組成。

　　電磁兼容性的測量手段主要是由測試場地和測試儀器組成。常規(guī)的電磁兼容檢測方法有屏蔽室法、開闊場法、電波暗室法等。

　　屏蔽室：在EMC測試中，屏蔽室能提供環(huán)境電平低而恒定的電磁環(huán)境，它為測量精度的提高，測量的可靠性和重復性的改善帶來了較大的潛力。但是由于被測設備在屏蔽室中產生的干擾信號通過屏蔽室的六個面產生無規(guī)則的漫反射，特別是在輻射發(fā)射測量和輻射敏感度測量中表現(xiàn)更嚴重，導致在屏蔽室內形成駐波而產生較大的測量誤差。

　　電波暗室：通常所說的電波暗室在結構上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應用中又分全電波暗室和半電波暗室。全電波暗室可充當標準天線的校準場地，半電波暗室可作為EMC試驗場地。電波暗室的主要性能指標有“靜區(qū)”、“工作頻率范圍”等六個。但建造電波暗室的成本、難度均相當高，因為暗室的工作頻率的下限取決于暗室的寬度和吸收材料的長度、上限取決于暗室的長度和所充許的靜區(qū)的小截面積。且由于吸波材料的低頻特性等原因，總的測試誤差有時高達幾十分貝。

　　由于開闊場、屏蔽室和電波暗室的部分缺點，1974年美國國家標準局的專家首先系統(tǒng)的論述了GTEM小室，其外形為上下兩個對稱梯形。GTEM小室具有結構簡單、檢測方法簡便等特點。標準GTEM小室的測量尺寸大約限定在設計的zui小工作波長的四分之一范圍，但對于小尺寸的被測件，可以滿足測試的要求和技術指標。